詳細(xì)摘要: 晶圓探針臺 用于晶片芯片多種器件電測量??梢詫崿F(xiàn)基礎(chǔ)測試、保護氣氛電路測試、光電流分析、FA失效分析等測量和分析平臺。
產(chǎn)品型號:HCP所在地:武漢市更新時間:2024-10-18 在線留言
武漢光谷薄膜技術(shù)有限公司
詳細(xì)摘要: 晶圓探針臺 用于晶片芯片多種器件電測量??梢詫崿F(xiàn)基礎(chǔ)測試、保護氣氛電路測試、光電流分析、FA失效分析等測量和分析平臺。
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